摘　要：通过石灰石标准样品高温灼烧后绘制校准曲线，解决了绘制校准曲线用活性类石灰无标准样品，又难同时准备足够多且有梯度生产样品等难题；烧结用石灰样品经高温灼烧后压片制样，大大减小了石灰样品基体干扰并完全消除粒度效应，从而实现粉末压片－Ｘ射线荧光光谱法对石灰石、活性石灰、生石灰中氧化钙、氧化镁和二氧化硅含量的测定。氧化钙、氧化镁和二氧化硅校准曲线的相关系数均大于0.999。对同一活性石灰样品进行精密度考察，3种组分测定结果的相对标准偏差（RSD，ｎ＝11）在0.086％～2.3％范围内。对生石灰、活性石灰炼铁烧结工序生产样品进行分析，测定值与熔融制样－Ｘ射线荧光光谱法的测定值一致；对石灰石标准样品进行分析，测定值与校正后的认定值相吻合。关键词：Ｘ射线荧光光谱法；烧结用石灰；粉末压片；氧化钙；氧化镁；二氧化硅下载全文——粉末灼烧压片_X射线荧光光谱法测_省略_材料中组分基体干扰的消除方法研究.pdf