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Ｘ－荧光光谱法分析钒铁中的钒
发表时间：[2015-05-28]　　作者：王剑云　　编辑录入：admin　　点击数：646

内容简介

摘要：运用基本参数法理论，用压片法测定钒铁中的钒，测试标样中各元素的强度，利用标样的测试结果修改软件提供的参数，校正测试物料的质量吸收系数、吸收限跃迁因子、谱线分数、原级谱分布和谱仪几何因子等基本参数，再进行试样比对，结果可靠，符合分析要求。关键词：基本参数法；钒铁；压片；Ｘ－荧光光谱下载全文——X_荧光光谱法分析钒铁中的钒.pdf

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