点击下载——X-荧光光谱法对硅锰中化学元素的分析.docX-荧光光谱法对硅锰中化学元素的分析王剑云(杭州钢铁集团公司质量管理处杭州310022)摘要：研究了基本参数法测定硅锰合金中化学元素的分析方法，测试标样强度，利用标样的测试结果修改软件提供的参数，校正测试物料的质量吸收系数、吸收限跃迁因子、谱线分数、原级谱分布和谱仪几何因子等基本参数，用压片法进行硅锰合金的分析，结果可靠，符合分析要求。关键词：基本参数法；硅锰合金；压片0前言现在采用X-荧光测试硅锰合金大都运用压片法、预氧化熔融法、离心浇铸法制作试样，运用各种数学校正方法制成所测元素的标准曲线进行测试，而非进行全元素分析。这种分析方法中压片法粒度、矿物效应等基体干扰严重，对分析结果影响较大。预氧化熔融法虽然能消除样品的不均匀性、化学态效应、粒度效应，但在预氧化时控制很难，很容易使铂金坩埚合金化，操作复杂难以控制。离心浇铸法设备贵重，容易引入硅等外来元素，影响测试准确性。本文采用的是基本参数法，进行试样的全组成分析，用压片法完成，分析简便，快速，分析结果表明本方法可靠，分析时间短，也大大降低了分析成本。1试验部份1.1主要试剂及仪器ThermoARL9900XP型X-射线..