摘要：高纯铬作为钢铁的添加材料，其杂质含量关系到材料的性能，高效、准确测定其杂质元素的含量至关重要。试验将粒度为１５０μｍ的高纯铬粉压制成片，建立了辉光放电质谱法（ＧＤ－ＭＳ）测定高纯铬中Ｎａ、Ｍｇ、Ａｌ、Ｓｉ等６８种杂质元素的方法。试验表明：通过优化仪器工作条件，铬压片放电信号稳定且强度可满足测试要求；高分辨模式下测定Ｋ、Ｚｎ、Ｇａ、Ｇｅ、Ｓｅ、Ｍｏ、Ｒｕ、Ｒｈ、Ｐｄ、Ａｇ、Ｓｎ元素，其余元素则在中分辨模式下消除质谱干扰。Ｎａ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｐ、Ｓ等１３个元素采用校正后的相对灵敏度因子（ＲＳＦ）进行测定，其余元素则采用仪器预设标准ＲＳＦ（ｓｔｄ－ＲＳＦ）进行测定。方法检出限为０．００１～０．５０μｇ／ｇ。按照实验方法测定两个高纯铬中杂质元素，其中５６种常见元素的测定结果与采用电感耦合等离子体质谱法（ＩＣＰ－ＭＳ）、电感耦合等离子体原子发射光谱法（ＩＣＰ－ＡＥＳ）、原子吸收光谱法（ＡＡＳ）、原子荧光光谱法（ＡＦＳ）、红外光谱法（ＩＲ）的测定结果相一致；其余１２种元素的测定结果也与ＩＣＰ－ＭＳ半定量参考值相吻合。关键词：辉光放电质谱法（ＧＤ－ＭＳ）；粉末样品；高纯铬；杂质元素 下载高清全..