点此下载——X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖的主次成分 摘要：利用高温熔融制备硅石、硅砖样品，应用X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3等主次成分的百分含量。通过国家标准物质和合成校准样品制作校准曲线，研究了熔剂的选择及其与样品的稀释比例，脱膜剂加入量对制样重现性的影响，探讨了采用差量法计算所得结果的准确性。实验结果表明，该方法的测定值与标准认定值一致，相对标准偏差小于5％，满足了硅石中常见组分快速分析的要求。 关键词：X射线荧光光谱法；硅石；硅砖；主次成分；差量法 硅质矿物材料主要以石英岩、水晶为主，其资源蕴藏丰富[1]，常用于冶金行业作为耐火材料，其制品有硅石和硅砖。通常硅质耐火材料的分析以SiO2为主，其次是Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO[2]。这些成分的定量分析通常采用化学分析方法．分析周期长、操作繁杂。蒋晓光[3]、王芙云[4]等人曾应用X射线荧光光谱仪测量硅石，分别采用Li2B4O7和Li2B4O7+LiBO2熔剂进行实验。南于硅质耐火材料不容易被Li2B4O7熔剂消解[5]，制样条件是通过加大稀释比例(1：20)或延长熔融时间(28min)来保证制样质量。本方法应用H3BO3+Li2CO3混合熔剂体系来减小熔融稀释比例，缩短..