内容简介 摘要:为研究高强度低屈强比双相钢中马氏体G奥氏体岛(MGA岛)的精细结构及晶粒取向差关系,利用自制的透射G电子背散射衍射(TGEBSD)样品台和透射电镜样品,在扫描电镜上完成了纳米级高分辨电子背散射衍射(EBSD)表征.通过优化工作电压、倾转角度、工作距离、探头距离、步长等参数,确定了最佳实验条件:工作电压为30kV,倾转角度为30°~38°,步长为15nm,最终获得了高质量的透射菊池花样,实现了微观组织的精细表征,将常规EBSD的分辨率提升了一个数量级.同时,利用透射电镜的高分辨透射电子显微术(HRTEM)进行了验证.EBSD分析结果表明,LYR690钢中MGA岛内部存在超细铁素体、铁素体与奥氏体混合相、残余奥氏体和马氏体等4种结构.残余奥氏体主要以两种形态存在:一种为数百纳米级别的独立晶粒,其与周边铁素体存在超过15°的大角度取向差;另一种为铁素体晶粒中分布的细微奥氏体结构,其与铁素体晶粒的取向差小于10°.关键词:马氏体G奥氏体岛(MGA岛);透射G电子背散射衍射技术(TGEBSD);精细结构;取向差下载高清全文——透射_电子背散射衍射技术表征双相_省略_氏体_奥氏体岛的相结构及晶粒取向.pdf
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