点击下载——X射线荧光光谱微区分析在钨矿石鉴定中的应用研究.docX射线荧光光谱微区分析在钨矿石鉴定中的应用研究梁述廷，刘玉纯，刘填，阳珊，张青，林庆文(安徽省地质实验研究所，安徽合肥230001)摘要：为解决类质同象矿物在显微镜下鉴定困难的问题，采用X射线荧光光谱仪微区分析功能对黑钨矿((Fe，Mn)WO4)、白钨矿(CaWO4)等钨矿石中主元素和主要伴生元素进行定性扫描和微区分布分析，获取矿物标本中存在的异常元素及其所处部位，然后在该部位确定重点测区进行定量分析以获取矿物组分的含量，最后计算各组分的配位数，并结合矿物组分含量的理论值给矿物定名。根据矿物标本的扫描图，重点对分析谱线、背景点、能量窗口、测量方式进行选择，有效规避了干扰。对谱线的重叠干扰、基体效应和矿物效应进行了仔细的研究，选择了合适的校正方式。各主要检测组分校准曲线的相关系数均大于0．999。对定量鉴定方法的精密度进行考察，各组分的相对标准偏差(RSD，n=12)均小于4%。将实验方法用于测定黑钨矿和白钨矿标本，定量鉴定结果与电子探针分析结果进行了比较，3个矿物标本各主要组分检测结果的相对偏差(RD)均小于4%，3组数据完全吻合。关键词：X射线荧光光谱；微区分析；钨矿石岩矿鉴..