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X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料及其原料中10种成分
发表时间:[2013-08-20]  作者:赵恩好1,岳明新1,周国兴1,肖刚1,张泉1,刘新2  编辑录入:小钼  点击数:787

内容简介

点击下载——X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料及其原料中10种成分.doc X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料及其原料中10种成分 赵恩好1,岳明新1,周国兴1,肖刚1,张泉1,刘新2 (1.沈阳地质矿产研究所,辽宁沈阳110032;2.东煤地质局沈阳测试中心,辽宁沈阳110032) 摘要:采用熔融制样,建立了镁质耐火材料(制品镁砖等)及其原料(水镁石,原料镁砂等)中MgO、Al2O3、SiO2、CaO、P2O5、TiO2、TFe2O3、Na2O、K2O、MnO的X射线荧光光谱分析方法。与以往方法相比,增加了Na2O、K2O的含量测试,为最终对于MgO的准确测试提供了依据。对高镁样品(MgO含量大于90%)的熔剂体系、样品与熔剂稀释比等方面进行了考察,同时对水镁石、菱镁矿等高烧失量样品的烧失量校正进行了探讨。采用国家标准样品GBW07105和高纯镁砂配制的系列校准样品来建立校准曲线,用经验系数法回归校正共存元素间的吸收增强效应。方法的检出限在0.031%~0.45%之间。对样品进行了精密度试验,各成分的相对标准偏差(RSD,n=10)在0.31%~3.4%之间。对人工合成样品及标准样品进行测试,结果与湿法测定结果吻合。 关键词:X射线荧光光谱法;熔融制样;镁质耐火材料及其原料;烧失量 镁质耐火..

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