点此下载——基于厚度增强因子的X射线厚度测量模型 摘要：通过对X射线测厚仪测量机理的研究，剖析了其机理模型黑匣子。同时根据现场情况，分析射线衰减系数、散射效应以及样板材质等对X射线测厚仪测量精度的影响，提出了一种带厚度增强因子的非线性模型。试验结果表明，厚度在0．1～2．5mm范围内，该模型只需要测量5个厚度点即完成基准曲线制作，测量精度可达到0．1％以内，简化了操作工序。 关键词：X射线测厚仪；厚度增强因子；机理模型；最小二乘法 0前言 射线穿透物质后，其强度衰减量与物质厚度存在确定性对应关系。基于这一特性，同位素测厚仪被应用于厚度测量领域。随着同位素设备的广泛应用，其弊端也逐渐显现，如安全方面，即使在切断电源后，同位素射线源仍然具有放射性。随着科学技术的快速发展，工业生产不仅对产品厚度质量提出了更高要求，同时针对同位素设备辐射安全也提出了极高的要求。而X射线是不同于天然放射线的人造射线，具有射线强度高、能量可控以及在断电后无放射性危害等特点，因此，基于X射线的测量设备被广泛应用于钢铁工业板材厚度和凸度等控制领域。据不完全统计，截止2012年宝钢X射线测厚仪数量已超过150余台，X射线测厚仪作为精确控..