冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构

发表时间：[2013-06-25]　　作者：　　编辑录入：冶金之家　　点击数：762

申请号：	201110405546.1	申请日：	2011.12.08
名称：	冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构
公开 (公告) 号：	CN103157673A	公开(公告)日：	2013.06.19
主分类号：	B21B38/04(2006.01)I	分案原申请号：
分类号：	B21B38/04(2006.01)I
颁证日：		优先权：
申请(专利权)人：	洛阳瑞清科技有限公司
地址：	471039 河南省洛阳市高新区延光路火炬创新创业园B座一层
发明 (设计)人：	吉爱国	国际申请：
国际公布：		进入国家日期：
专利代理机构：	北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019	代理人：	寿宁;张华辉

摘要　

本发明是有关于一种冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其下盖主要包括出气孔、气路腔体、下盖固定孔、进气孔，出气孔均匀地设置在下盖的外周缘处，该下盖为中空结构，形成气路腔室，测量头下盖设有一个进气孔，下盖固定孔将下盖固定在测量头的窗口上。该下盖外周缘处设有八个出气孔。在C型架上臂测量头中增加了一套空气吹扫系统，通过这套系统，将空气吹过测量头，通过测量头下盖的八个孔，将窗口膜表面的油污和水雾吹扫干净，保证窗口膜表面干净，从而保证测厚仪测量的精度。