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ICP-OES法测定钴基碳化钨中钨、钴的含量
发表时间:[2023-06-06]  作者:韩鹏  编辑录入:小锰  点击数:976

内容简介

摘要:钴基碳化钨粉末合金耐蚀性较高,溶解完全较为困难。对样品前处理方法以及仪器分析参数等影响因素进行了对比研究。最后确定使用盐酸及磷酸加热溶解样品,高温下滴加硝酸以破坏碳化物,样品完全消解后以电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP—OES)测定样品中常量元素钨、钴的含量。综合谱线发射强度和干扰重叠等因素,最终钨、钴的分析谱线分别选择224.876nm、228.616nm。实验结果表明,钨、钴在一定的质量浓度范围内与其对应的光谱强度呈线性关系,线性相关系数均大于0.9999。方法对于钴基碳化钨粉末合金测定值的相对标准偏差(n=10)在0.14%~0.78%之间,方法的加标回收率在95.7%~99.3%之间,测定结果具有较好的准确性。 关键词:钴基碳化钨;消解方法;电感耦合等离子体原子发射光谱法;钨;钴 下载高清全文——ICP-OES法测定钴基碳化钨中钨、钴的含量.pdf

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