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波长色散X射线荧光光谱法测定锰硅、锰铁合金中主次量元素
发表时间:[2021-10-08]  作者:丁玉献,张庆峰  编辑录入:小锰  点击数:7128

内容简介

摘要:将试样与氧化剂充分混匀,放置在熔剂铺底的铂金坩埚中,再以少许熔剂覆盖,滴加少量溴化锂作脱模剂,放置于熔融仪中在高温下熔融,铸成玻璃熔片。样品表层经X-射线照射,产生特征X-射线荧光强度,根据特征X射线强度和标准值回归工作曲线,计算出样品中锰、硅和磷的质量分数。经大量试验证明,此方法操作简便,分析周期短,分析结果准确可靠,尤其适宜作为大批量合金检验的方法。 关键词:波长色散X射线荧光光谱法;玻璃熔片;锰硅 下载高清全文——波长色散X射线荧光光谱法测定锰硅、锰铁合金中主次量元素.pdf

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