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烧结温度对高速压制制备弥散强化铜材料导电率的影响
发表时间:[2015-06-30]  作者:李贺,尹海清,易善杰,DilFarazKhan,曹慧钦,张桐,曲选辉  编辑录入:小钼  点击数:1581

内容简介

摘要:弥散强化铜材料具有高强度和高导电性的特性,孔洞是影响导电率的重要因素。本文采用高速压制成形技术,对Al2O3质量分数为0.9%的弥散强化铜粉压制成形,研究了压制速度对生坯的影响。当压制速度为9.4m·s-1时得到密度为8.46g·cm-3的生坯。研究了烧结温度对烧结所得Al2O3弥散强化铜试样导电率的影响。当生坯密度相同时,烧结温度越高,所得试样的导电率也越高。断口与金相分析表明:烧结温度为950℃时,烧结不充分,颗粒边界以及孔洞多而明显,孔洞形状不规则;烧结温度为1080℃时,颗粒边界消失,孔洞圆化,韧窝出现,烧结坯的电导率为71.3%IACS.关键词:金属基复合材料;氧化物弥散强化;铜;氧化铝;高速压制;烧结温度;导电率下载全文——烧结温度对高速压制制备弥散强化铜材料导电率的影响_DilF.pdf

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