摘要：应用硅钼蓝分光光度法对哈氏系列合金中低硅含量的测定方法进行了研究。试样在聚四氟乙烯烧杯中用一定比例的盐酸和硝酸溶解后，加入氢氟酸，多余的氢氟酸与饱和硼酸络合反应，在680nm波长下进行比色分析。试验结果表明，该方法稳定，数据准确，可测定哈氏系列合金中0～0.1%的低硅。　　关键词：分光光度法；低硅；哈氏合金系列下载全文——硅钼蓝分光光度法测定哈氏系列合金中低硅含量.pdf