摘　要：利用铜粉作为导电介质，与氧化镧粉末混合均匀，压片，采用直流辉光放电质谱法(dc-GDMS)测定了高纯氧化镧粉末中的部分杂质元素含量。考察了辉光放电条件，如放电电流、放电气体流量、离子源温度以及压片条件，如两种粉末的混合比例、压片机压力等因素对放电稳定性以及灵敏度的影响，优化了实验条件；尝试了将镧，氧和铜的总信号归一化进行计算的方法，用差减法计算了高纯氧化镧粉末中的杂质元素含量。将铜粉作为试剂空白，连续测定11次，统计各待测元素检出限为0.005～0.34μg/g；对高纯氧化镧粉末样品独立测定6次，测定结果与电感耦合等离子体质谱法基本吻合，相对标准偏差在20%以内。　　关键词：直流辉光放电质谱法；高纯氧化镧；杂质元素下载全文——直流辉光放电质谱法测定高纯氧化镧中25种杂质元素.pdf