摘要采用Li284O7为熔剂。LiBr为脱模剂，熔融制各样品；运用理论α系数法校正基体效应，X—射线荧光光谱法分析了烧结矿中Na20、K2O、Pb、Zn等微量元素的测定，测定方法与ICP分析法吻合较好，可满足生产分析的要求。关键词X-射线荧光光谱法烧结矿干扰P1前言烧结矿中Na20、K2O、Pb、Zn对高炉冶炼存在严重的危害，钾、钠等碱金属元素在冶炼过程中在高炉内会自动富集，达到一定量后，会在高炉内引起结炉瘤、悬料、破坏炉衬，甚至堵塞管道、缩短炉衬寿命；铅在高炉内易还原成金属铅，沉在铁水下面，渗入高炉砖缝，破坏炉底砌砖，甚至使砌砖浮起；锌在高炉中易于还原和挥发，高炉高温区锌蒸气大量挥发，并在炉身上部被氧化而沉积，使体积膨胀，破坏炉衬，引起炉壳破裂，严重时引起结瘤，破坏炉底等严重后果。因此，准确及时进行这些有害元素的测定，可以为高炉有效操作提供指导。通常这些元素的测定使用化学分析方法、原子吸收以及ICP－AES，本文尝试通过X一射线荧光光谱法进行烧结矿中Na20、K2O、Pb、Zn等微量元素的测定，在充分考虑到谱线干扰、基体效应的影响的基础上，进行实验研究，取得满意结果。2实验部分2．1主要仪器及型号X荧光光谱仪：PANalyticalAxiosPW4400端窗铑靶X光管..