摘要：对取向硅钢高温退火工艺进行实验室模拟，采用聚焦离子束显微镜（ＦＩＢ）观察了氧化层中二氧化硅和氧化镁反应的微观形貌演变过程，采用能谱仪（ＥＤＳ）分析了试样截面近表层Ｍｇ、Ａｌ、Ｓｉ等元素的分布规律，最后采用透射电镜（ＴＥＭ）分析了对成品试样硅酸镁底层的结构特征。结果表明：（１）Ｍｇ离子的扩散速度是影响硅酸镁底层反应的主要因素；（２）Ｍｇ离子最初沿着二氧化硅颗粒与铁基体之间的界面扩散，逐渐将二氧化硅颗粒包覆；随着温度的进一步升高，Ｍｇ离子开始向二氧化硅颗粒内部扩散，并与之反应；（３）随着温度的升高，特别是在ＡｌＮ分解后，钢基中的Ａｌ会逐渐将钉扎部位的硅酸镁（Ｍｇ２ＳｉＯ４）完全转化成为镁铝尖晶石（ＭｇＯ·Ａｌ２Ｏ３）。 关键词：氧化镁；二氧化硅；高温退火；硅酸镁；镁铝尖晶石 下载高清全文——取向硅钢高温退火时内氧化层与MgO反应过程研究.pdf