X射线衍射法分析铝电解槽炉底沉淀物相组成

发表时间：[2014-07-28]　　作者：储刚1，蒋晓光2，林忠2，李卫刚2，邵帅　　编辑录入：小钼　　点击数：656

内容简介

　　摘要：铝电解过程中形成的铝电解槽沉淀影响电解槽的使用寿命。采用X射线衍射仪(XRD)分析了铝电解槽炉底沉淀物相组成，分析结果表明：取自电解槽底废炭砖表面白色和黑色部分中的物相主要以AlN、NaF、Al12((OH)0.5F0.6)6和Al(OH)3的形式存在，另外有少量的石墨化碳、CaF2和Na1.95(Al1.95Si0.05O4)等。废炭砖浅内层中的AlN含量明显减少，而NaF含量较高，说明电解铝过程中产生的NaF渗透到炭砖内部较多。废炭砖表面和浅表层中的原半石墨化碳已经完全石墨化。　　关键词：铝电解槽；沉淀物；X射线衍射；组成分析下载全文——X射线衍射法分析铝电解槽炉底沉淀物相组成.pdf

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