内容简介 摘 要:采用40g/L重铬酸钾溶液作为氧化镁的浸取剂,在室温下震荡样品30min,过滤后选择279.553nm、280.270nm、285.213nm 3条谱线中的任一条谱线作为分析线,在优化仪器参数的条件下用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定滤液中的氧化镁,从而建立了稀土镁硅铁合金中氧化镁的测定方法。方法的检出限(质量分数)分别为0.003 0%(279.553nm)、0.002 7%(280.270nm)、0.0043%(285.213nm),测定下限(质量分数)分别为0.030%(279.553nm)、0.027%(280.270nm)、0.043%(285.213nm),铁、钾、铬、稀土的允许量(μg/mL)分别为150、2 000、6 000、200,试液中2g/L重铬酸钾产生基体效应对测定的影响可以忽略不计。方法应用于实际样品中氧化镁的测定,测定值与原子吸收光谱法的测定值相符,测定结果的相对标准偏差小于5%.关键词:氧化镁;稀土镁硅铁合金;电感耦合等离子体原子发射光谱法下载全文——重铬酸钾溶液浸取_电感耦合等离子体原子发射光谱法测定稀土镁硅铁合金中氧化镁.pdf
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