点击下载——薄样技术—能量色散X射线荧光光谱法测定钯铂金研究.doc薄样技术—能量色散X射线荧光光谱法测定钯铂金研究邬旭然1，2，韩晓锋1，2，王丽1，2，吕建刚1，2，薛光2，田宇纮1(1．烟台大学化学化工学院，山东烟台264005；2．山东黄金工程技术研究中心(工业应用)，山东烟台264005)摘要：采用树脂分离富集金矿和铜阳极泥中的Pd、Pt、Au，结合薄样技术，利用自制X射线荧光(XRF)能谱仪同时测定这3种元素。对3种型号树脂进行了选择，确定了AmberlystA26树脂为分离树脂，并采用单因素法对AmberlystA26树脂柱高、流速和盐酸浓度进行了优化，确定了最佳实验条件分别为柱高10cm、流速3mL／min和盐酸浓度0．2mol／L。同时对XRF分析方法进行了方法学验证。XRF能谱仪采用Mo靶激发，新型SDD探测器，结合优化的薄样技术，基本消除基体效应，可用内标法定量；仪器检出限(LLD)Pd、Pt、Au分别为0．021、0．019、0．015μg／mL，方法检出限(LDM)分别为0．066、0．062、0．050μg／mL；采用11种元素的混合标准测得RSD在1．6%～7．5%之间。所测金矿样品的结果与国标法结果一致，铜阳极泥的测定结果与ICP—MS法结果基本一致。关键词：树脂；金；薄样技术钯、铂、金等贵金属元素由于具有许多独..