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粉末压片—X射线荧光光谱法测定土壤、水系沉积物和岩石样品中15种稀土元素
发表时间:[2013-08-20]  作者:李小莉1,张勤2  编辑录入:小钼  点击数:1044

内容简介

点击下载——粉末压片—X射线荧光光谱法测定土壤、水系沉积物和岩石样品中15种稀土元素.doc 粉末压片—X射线荧光光谱法测定土壤、水系沉积物和岩石样品中15种稀土元素 李小莉1,张勤2 (1.天津地质矿产研究所,天津300171;2.中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所,河北廊坊065000) 摘要:采用粉末样品压片制样,使用波长色散X射线荧光光谱仪对土壤、水系沉积物和岩石样品中15个稀土元素(La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Y)进行测定。重点探讨了15个稀土元素的测量条件,如分析线、分析晶体,基体效应和谱线重叠干扰校正。使用60余个土壤、水系沉积物和岩石标样建立校准曲线,采用经验系数法和散射线内标法校正基体效应,并用多元回归准确扣除稀土元素谱线重叠干扰。重稀土元素的检出限多在0.2μg/g以下。对土壤标准样品进行精密度考察,15个稀土元素测量结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.74%~17%。对土壤、水系沉积物和岩石标准样品进行分析,测定值和认定值一致。 关键词:波长色散X射线荧光光谱;稀土元素;粉末压片;土壤;水系沉积物;岩石 稀土元素在地壳中的总含量约为5×10-3%,其对..

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